高频介质损耗因数及相对电容率项目技改动态

经一年努力，中心新建成洁净实验室（洁净度为10000级），配置了哈弗莱2830/2831电桥、安捷伦阻抗分析仪、AET空洞共振腔等仪器，总价值180余万元，实现了对介损和相对电容率检测的低、中、高频率的全覆盖。
介质损耗因数和相对电容率项目检测频段及对应样品尺寸：

频率点/频段	使用仪器	试样尺寸	检测标准
50、60Hz	哈弗莱2830/2831、2821电桥	Φ100mm圆片或方片，样品厚度≤10mm	GB/T 1409-2006
1kHz-10MHz	安捷伦阻抗分析仪	Φ50圆片或方片，样品厚度≤7mm	参考GB/T 1409-2006
1GHz 3GHz 5GHz 10GHz	日本AET空洞共振腔	长80mm×宽3.0mm×厚1.0mm； 其中1GHz频段的样品厚度可适当放宽到2mm	参考GB/T 1409-2006

薄膜实验室全景

AET空洞共振腔

安捷伦阻抗分析仪

哈弗莱2830/2831电桥

     欢迎有测试需求的客户致电我中心进行测试咨询和洽谈。

机械工业电工材料产品质量监督检测中心

2016年7月8日